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Koautoren
Wilhelm HuckRadboud University, NijmegenBestätigte E-Mail-Adresse bei science.ru.nl
David BitauldIII-V Lab, Nokia Bell LabsBestätigte E-Mail-Adresse bei nokia-bell-labs.com
Jeremy O'BrienUniversity of BristolBestätigte E-Mail-Adresse bei bristol.ac.uk
Enrique Martín-LópezSenior Research Scientist, Nokia Bell LabsBestätigte E-Mail-Adresse bei nokia-bell-labs.com
Andrew ShieldsToshiba Europe LtdBestätigte E-Mail-Adresse bei crl.toshiba.co.uk
David A RitchieUniversity of Cambridge and Swansea UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei cam.ac.uk
Paul J SimmondsTufts UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei tufts.edu
Beata KardynalForschungszentrum Juelich and RWTH Aachen UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei fz-juelich.de
Piers AndrewEmberionBestätigte E-Mail-Adresse bei emberion.com
Mark G ThompsonUniversity of BristolBestätigte E-Mail-Adresse bei Bristol.ac.uk
Mirko LobinoAssociate Professor, Universita' di TrentoBestätigte E-Mail-Adresse bei unitn.it
Dae Joon KangSungkyunkwan UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei skku.edu
Christine LuscombeProfessor, Okinawa Institute of Science and Technology Graduate UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei oist.jp
Di WeiUniversity of CambridgeBestätigte E-Mail-Adresse bei cam.ac.uk
Ian FarrerElectronic and Electrical Engineering, University of SheffieldBestätigte E-Mail-Adresse bei sheffield.ac.uk